Ближнепольная оптическая микроскопия — оптическая микроскопия, основанная на эффекте присутствия в дальней зоне излучения идентифицируемых следов взаимодействия света с микрообъектом, находящимся в ближнем световом поле, то есть на расстоянии много меньшем длины волны (h<< λ ) и при апертуре также много меньшей длины волны (d << λ ).
История
Ближнепольный оптический микроскоп был изобретен вслед за сканирующим туннельным микроскопом сотрудником лаборатории IBM в Цюрихе Дитером Полем.
Создание туннельного микроскопа положило начало целой области исследований — сканирующей зондовой микроскопии.
Однако все методы построения сканирующих микроскопов подразумевали измерение какого либо неоптического параметра поверхности образца. Оптические же микроскопы были ограничены дифракционным пределом.
Если в качестве зонда вместо иглы взять миниатюрную диафрагму с отверстием в несколько нанометров. И в соответствии с законами квантовой механики, видимый свет (с длиной волны несколько сот нанометров) проникает в такое маленькое отверстие, но не далеко, а на расстояние, сопоставимое с размерами отверстия. Если в пределах этого расстояния, в так называемом «ближнем поле», поставить образец, отраженный от него свет даст видимый сигнал. Перемещая диафрагму в непосредственной близости от образца, как в туннельном микроскопе, получим поточечное изображение поверхности.
Уникальность ближнепольной оптической микроскопии по сравнению с другими сканирующими методами состоит в том, что изображение строится непосредственно в оптическом диапазоне, в том числе видимого света, однако разрешение многократно превышает разрешение традиционных оптических систем.
